標準測試資料格式

標準測試資料格式（Standard Test Data Format）簡稱STDF，泰瑞達公司首創，是一種通用的、適用於ATE行業使用的晶片測試結果記錄格式。

STDF記錄結構

本節由以下內容構成：

• STDF記錄頭
• 記錄類型和子類型
• 數據類型碼和表示
• 可選欄位和丟失/無效數據

STDF記錄頭

每個STDF記錄從記錄頭部分開始，記錄頭中包含以下三個欄位：

• REC_LEN：跟在記錄頭之後的數據的字節長度，它不包含4位元組的記錄頭本身長度。
• REC_TYP：標記一組相關STDF記錄類型的整形數。
• REC_SUB：在每個REC_TYP組中標記一個特定STDF記錄類型的整形數。

記錄類型和子類型

每個STDF記錄的頭部都包含一對欄位：REC_TYP和REC_SUB。每個REC_TYP用來標記一組相關的STDF記錄配型。每個REC_SUB用來唯一標記每個記錄類型。這樣設計允許數據分析程序輕鬆識別相關記錄組，同時為文件中的每種類型的記錄提供唯一標識。

所有小於 200 的 REC_TYP 和 REC_SUB 代碼都保留供泰瑞達將來使用。 所有大於 200 的代碼均可用於自定義應用程式。 代碼都是十進位值。 其使用的官方代碼和文檔列表由泰瑞達半導體 CIM 部門 (SCD) 維護。