File:Kelvin probe force microscopy.svg
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原始檔案 （SVG 檔案，表面大小：860 × 470 像素，檔案大小：83 KB）
摘要
| 描述 | In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinusoid whose frequency matches the mechanical resonance of the cantilever. The cantilever is driven into oscillation by electrostatic forces where the DC potential difference between the surface and the cantilever is non-zero. Using a four-quadrant detector and an A/D to detect cantilever motion, the feedback circuit drives the DC signal to the surface potential, minimizing cantilever motion and resulting in a map of the work function of the surface. |
| 日期 | March 1, 2008 (UTC+0100) |
| 來源 | 自己的作品 |
| 作者 | Inkwina (留言 · 貢獻) |
| 其他版本 |
Derivative works of this file: Kelvin probe force microscopy DE.svg Image:Kpfm.png |
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Credit
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| 日期/時間 | 縮圖 | 尺寸 | 使用者 | 備註 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 目前 | 2008年3月1日 (六) 16:53 | | 860 × 470（83 KB） | Inkwina | Fixed SVG |
| 2008年3月1日 (六) 16:21 |  | 860 × 470（84 KB） | Inkwina | {{Information |Description=In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinu |
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