自动测试图样产生(英语:Automatic test pattern generation, ATPG)系统是一种工具,可以产生数字电路测试所需的输入讯号,自动测试设备可以利用此讯号确认电路行为,进而判断电路是否损坏。

超大型积体电路测试平台,要达到非常高的错误涵盖率是非常困难的工作,因为它的复杂度很高。 针对组合逻辑电路(Combinatorial logic)和时序逻辑电路(Sequential logic)的电路测试,必须要使用不同的 ATPG 方法。

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