| 此条目没有列出任何参考或来源。 (2024年7月11日) 维基百科所有的内容都应该可供查证。请协助补充可靠来源以改善这篇条目。无法查证的内容可能会因为异议提出而被移除。 |
| 此条目可参照英语维基百科相应条目来扩充。 若您熟悉来源语言和主题，请协助参考外语维基百科扩充条目。请勿直接提交机械翻译，也不要翻译不可靠、低品质内容。依版权协议，译文需在编辑摘要注明来源，或于讨论页顶部标记 {{Translated page}}标签。 |
自动测试图样产生（英语：Automatic test pattern generation, ATPG）系统是一种工具，可以产生数字电路测试所需的输入信号，自动测试设备可以利用此信号确认电路行为，进而判断电路是否损坏。
超大规模集成电路的测试平台，要达到非常高的错误涵盖率是非常困难的工作，因为它的复杂度很高。 针对组合逻辑电路（Combinatorial logic）和时序逻辑电路（Sequential logic）的电路测试，必须要使用不同的 ATPG 方法。