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自動測試圖樣產生(英語:Automatic test pattern generation, ATPG)系統是一種工具,可以產生數碼電路測試所需的輸入訊號,自動測試設備可以利用此訊號確認電路行為,進而判斷電路是否損壞。
超大型積體電路的測試平台,要達到非常高的錯誤涵蓋率是非常困難的工作,因為它的複雜度很高。 針對組合邏輯電路(Combinatorial logic)和序向邏輯電路(Sequential logic)的電路測試,必須要使用不同的 ATPG 方法。